Transmission electron microscopy - diffraction, imaging, and spectrometry
- Författare
- (Edited by David B. Williams, C. Barry Carter.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer | 2016 | Schweiz, Cham | xxiii, 518 sidor illustrationer 28 cm | 978-3-319-26649-7 |